来自MSN5 天
Analyzing Shot-Peened Titanium Alloys Using Spherical Indexing
Use precise geolocation data and actively scan device characteristics for identification. This is done to store and access ...
AZoM on MSN10 天
Revolutionizing OIM Analysis with Spherical Indexing
Spherical indexing is very effective for samples where traditional indexing struggles, such as in highly deformed materials.
智能制造网13 天
电池创新：芝加哥大学通过改善金属纹理来提高性能
芝加哥大学普利兹克分子工程学院研究副教授Minghao Zhang表示：“在这项研究中，我们发现在锂金属和集电器之间添加一层薄薄的硅，有助于形成所需的纹理。这一改变将使用锂金属的全固态电池的速率能力提高近十倍。” ...
搜狐18 天
镁合金微观结构分析：EBSD制样技术的应用与经验探讨
在材料科学领域，电子背散射衍射（EBSD）技术以其卓越的晶体微区取向和结构分析能力，已经成为全球研究者不可或缺的工具。它不仅能够提供关于材料微观组织结构和微织构的精确信息，还极大地推动了材料科学研究的深入发展。 随着技术的进步，EBSD系统与 ...
techxplore22 天
New battery innovation focuses on the texture of metal to improve performance
Researching this required getting past a hurdle in microscopy. To study the material, the group coupled milling within a plasma-focused ion beam-scanning electron microscope (PFIB-SEM) with electron ...
搜狐25 天
探索电子背散射衍射（EBSD）：基础原理与应用领域
在材料科学领域，电子背散射衍射（EBSD）技术是一种强大的工具，它能够提供材料微观结构的详细信息。为了确保EBSD分析的准确性和有效性，样品的制备和数据的采集与处理至关重要。 样品制备的重要性 EBSD分析要求样品表面达到一定的质量标准，以确保能够 ...
Frontiers4 年
Effect of Temperature on the Mechanical Properties and Deformation Mechanism of a High Mn ...
The microstructure of the composite was characterized by field-emission scanning electron microscopy (FE-SEM, FEI Talos 200X TEM) equipped with a backscattered electron (BSE) detector and an electron ...