检测5nm以下的缺陷给芯片制造商带来了巨大挑战，这些挑战直接影响芯片的良率、可靠性和企业的盈利能力。

在当前工业与技术迅猛发展的时代，各类新技术层出不穷，尤其是在缺陷检测领域，一项关注度持续上升的创新技术引起了业界的广泛关注。2025年4月7日，金融界报道，成都数之联科技股份有限公司申请了一项名为"一种基于神经网络的面板缺陷综合检测方法及系统"的专利，公开号为CN119762875A。该专利的申请日期为2024年12月，着眼于解决现有缺陷检测方法在适用性和功能性方面的诸多不足，展现了公司在人工智能 ...

In a groundbreaking development, Shanghai舜华新能源系统有限公司 has filed a patent for an innovative health status detection system for hydrogen storage equipment. The system, which utilizes machine learning alg ...

随后，农业厅于4月10日与中方进行了磋商。中国方面确认其专家委员会已审查相关资料，并批准泰方所提的7家实验室，这些实验室自2025年4月14日起正式获得在出口中国的水果中检测BY2的资格。

芯片量检测设备可细分为检测（Inspection）和量测（Metrology）两大类。其中，量测指对晶圆电路上的结构尺寸和材料特性进行量化描述，包括薄膜厚度 ...

新华社北京3月24日电（记者赵文君）记者24日从市场监管总局获悉，修订后的《检验检测机构监督管理办法》近日正式发布，出具虚假、不实检验 ...